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X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣，本質(zhì)上都屬于電磁波，只是彼此之間占據(jù)不同的波長范圍而已。X射線的波長較短，大約在10-8～10-10cm之間。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管，這是一種裝有陰陽極的真空封閉管，在管子兩極間加上高電壓，陰極就會發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽極靶，從而產(chǎn)生X射線。X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的X射線照射試...

臺式掃描電鏡(DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM)相較于傳統(tǒng)大型SEM，臺式掃描電鏡具有體積小巧、操作簡便、價格便宜、快速抽真空、不用噴金測量不導(dǎo)電樣品等優(yōu)勢，而且它的放大倍數(shù)可高達(dá)130,000倍。此類新型儀器的出現(xiàn)填補(bǔ)了光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的空白區(qū)域，可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺式掃描電鏡的工作原理和優(yōu)點(diǎn)：成像系統(tǒng)和電子束系統(tǒng)均內(nèi)置在真空柱中，真...

低溫環(huán)境XRD的分析中，定量分析軸承和內(nèi)燃機(jī)噴射器部件中的殘余奧氏體；檢測輸片惰性輪中的殘余應(yīng)力；檢測汽車發(fā)動機(jī)部件的殘余應(yīng)力(凸輪軸、連桿、發(fā)動機(jī)軸、均衡器)；檢測由于全同火引起的殘余應(yīng)力(家用電器、結(jié)構(gòu)部件)；檢測氣體傳導(dǎo)時所存在的工作壓力；檢測大幅度拉伸結(jié)構(gòu)件中的工作應(yīng)力；通過檢測應(yīng)力來測量工件噴丸和軋制的效率；檢測鑄件的殘余應(yīng)力(機(jī)械工具鑄鐵件和汽車鑄鋁部件)；檢測焊接引起的應(yīng)力(激光和電焊)；研亢鋁合金汽車輪廓中的殘余應(yīng)力和應(yīng)力阻抗的笑系：優(yōu)化切削去除的工作參數(shù)以提...

日本電子電鏡是一個復(fù)雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技術(shù)。成像是采用二次電子或背散射電子等工作方式，隨著掃描電鏡的發(fā)展和應(yīng)用的拓展，相繼發(fā)展了宏觀斷口學(xué)和顯微斷口學(xué)。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過多級電磁透鏡匯集成細(xì)小(直徑一般為1~5nm)的電子束(相應(yīng)束流為101-1012A)。在末級透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。這些...

高溫環(huán)境XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。高溫環(huán)境XRD的原理：x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這...

SEM掃描電鏡是一種用于放大并觀察物體表面結(jié)構(gòu)的電子光學(xué)儀器。掃描電鏡由鏡筒、電子信號的收集和處理系統(tǒng)、電子信號的顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)等組成，具有放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高和景深大等特點(diǎn)。應(yīng)用于生物、醫(yī)學(xué)、材料和化學(xué)等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡在使用時應(yīng)需要以下事項(xiàng)：1、將試樣置于載物臺墊片，調(diào)整粗/微調(diào)旋鈕進(jìn)行調(diào)焦，直到觀察到的圖像清晰為止；2、調(diào)整載物臺位置，找到要觀察的視野，進(jìn)行分析；3、掃描電鏡調(diào)焦時注意不要使物鏡碰到試樣，以免劃傷物鏡；4、當(dāng)載物臺墊片...

X射線衍射儀XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此，X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法，已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。X射線衍射儀XRD的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，為衍射...